采用固相烧结法制备了不同组分Pb(ZrxTi1-x)O3 (x=0.8, 0.7, 0.48, 0.3, 0.2)陶瓷。分别采用TG/DSC分析仪、X射线衍射仪、扫描电子显微镜和阻抗分析仪LCR分析了粉体的热分解温度;表征了PZT压电陶瓷的微观结构与形貌;并讨论了不同Zr/Ti比对PZT陶瓷的介电性能的影响。结果表明:Pb(ZrxTi1-x)O3 (x=0.8, 0.7, 0.48, 0.3, 0.2)陶瓷靶材在850℃预烧2h后,得到了PZT主晶相成相明显的粉末。在1 050℃烧结8h得到了晶界清晰、晶粒尺寸分布较均匀、较致密、具有纯的钙钛矿结构的PZT陶瓷。不同Zr/Ti比对PZT陶瓷的微观结构和性能有重要影响,测试了不同组分PZT陶瓷在1 kHz处的介电常数值,得出当x=0.48时,PZT陶瓷介电常数表现最佳,介电损耗最小,ε =534, tan δ =0. 04。