Ｘ线荧光光谱法测定中低合金钢组分

doi:ｄｏｉ：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１００９－０４７９．２０１３．０３．００４

昆明冶金高等专科学校学报 ›› 2013, Vol. 29 ›› Issue (3): 16-.DOI: ｄｏｉ：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１００９－０４７９．２０１３．０３．００４

Ｘ线荧光光谱法测定中低合金钢组分

昆明钢铁集团责任有限公司质量计量检测中心，云南玉溪６５３１００

出版日期:2013-07-05 发布日期:2013-07-05
作者简介:段家华（１９８４－），男，云南临沧人，工程师，主要从事冶金分析研究。

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Online:2013-07-05 Published:2013-07-05

摘要/Abstract

摘要： 介绍了Ｘ荧光光谱法对中低合金钢中Ｓｉ、Ｍｎ、Ｐ、Ｓ、Ａｓ、Ｔｉ、Ｎｉ和Ｃｒ８种化学成分的分析方法。选用国家标准样品建立工作曲线，利用经验系数法进行基体校正，谱线重叠校正、基体干扰校正等。结果采用国标样品标准值进行验证，并与火花源原子发射光谱法分析结果进行比较；实验证明，相对标准偏差均＜２％，准确度在允许偏差范围内，方法可靠性满足生产需求。加强了与直读光谱之间的比对实验，弥补了直读光谱维修期间的分析工作。

关键词: Ｘ线荧光光谱法, 中低合金钢, 测定方法

Abstract: ＴｈｉｓｐａｐｅｒｆｉｒｓｔｉｎｔｒｏｄｕｃｅｓｔｈａｔＸｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙｃａｎａｎａｌｙｚｅｔｈｅｅｉｇｈｔｃｈｅｍｉｃａｌｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎｓｏｆＳｉ，Ｍｎ，Ｐ，Ｓ，Ａｓ，Ｔｉ，ＮｉａｎｄＣｒｃｏｎｔａｉｎｉｎｇｉｎｍｉｄｄｌｅｌｏｗａｌｌｏｙｓｔｅｅｌｂｙｅｓｔａｂｌｉｓｈｉｎｇａｗｏｒｋｉｎｇｃｕｒｖｅｗｉｔｈｎａｔｉｏｎａｌｓｔａｎｄａｒｄｓａｍｐｌｅｓ，ｕｓｉｎｇｔｈｅｅｍｐｉｒｉｃａｌｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔｆｏｒｍａｔｒｉｘｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ，ｓｐｅｃｔｒａｌｏｖｅｒｌａｐｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎａｎｄｍａｔｒｉｘｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ．Ｔｈｅａｎａｌｙｓｉｓｉｓｖｅｒｉｆｉｅｄｂｙｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌｓａｍｐｌｅｓｔａｎｄａｒｄｖａｌｕｅａｎｄｃｏｎｔｒａｓｔｅｄｗｉｔｈｔｈｅｏｎｅｂｙｕｓｉｎｇｓｐａｒｋｓｏｕｒｃｅａｔｏｍｉｃｅｍｉｓｓｉｏｎｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ．Ｔｈｅｒｅｓｕｌｔｓｈｏｗｓｔｈａｔ，ｂｙｕｓｉｎｇＸｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ，ｔｈｅｒｅｌａｔｉｖｅｓｔａｎｄａｒｄｄｅｖｉａｔｉｏｎｓａｒｅａｃｃｕｒａｔｅｔｏｌｅｓｓｔｈａｎ２％，ｗｉｔｈｉｎｔｈｅａｌｌｏｗａｂｌｅｄｅｖｉａｔｉｏｎｒａｎｇｅ，ｗｈｉｃｈｃａｎｍｅｅｔｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎｎｅｅｄｓｉｎｔｅｒｍｓｏｆｉｔｓｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ．Ｉｔａｌｓｏｓｔｒｅｎｇｔｈｅｎｓａｃｏｎｔｒａｓｔｉｖｅｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔｗｉｔｈｄｉｒｅｃｔｒｅａｄｉｎｇｓｐｅｃｔｒｕｍｓｏａｓｔｏｒｅｐｌａｃｅｔｈｅａｎａｌｙｓｉｓｗｏｒｋｗｈｅｎｔｈｅｄｉｒｅｃｔｒｅａｄｉｎｇｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒｉｓｉｎｍａｉｎｔｅｎａｎｃｅ．

Key words: Ｘｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ, ｍｉｄｄｌｅｌｏｗａｌｌｏｙｓｔｅｅｌ, ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｍｏｄｅ

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