一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现

doi:１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１００９－０４７９．２０１０．０５．０１２

昆明冶金高等专科学校学报 ›› 2010, Vol. 26 ›› Issue (5): 52-56.DOI: １０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１００９－０４７９．２０１０．０５．０１２

一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现

昆明理工大学信息工程与自动化学院，云南昆明６５００５１

出版日期:2010-09-30 发布日期:2010-09-30
作者简介:金建辉（１９７４－），男，云南昆明人，实验师，工学硕士，主要从事电子技术研究
基金资助:
昆明理工大学实验室自制仪器设备项目（１０９１１０１０）。

ＤｅｓｉｇｎｏｆＡＳｉｍｐｌｅＣｈｉｐＴｅｓｔｅｒｗｉｔｈＣｈｉｎｅｓｅＩｎｔｅｒｆａｃ

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Online:2010-09-30 Published:2010-09-30

摘要/Abstract

摘要： 在数字电路实验中，大量使用一些基本系列的数字集成芯片，芯片的好坏和型号需要检测。市场上工程应用型测试仪价格较贵，不能测试实验室中很多数字芯片，且非中文界面显示。综合了现有的各类测试仪的优缺点，采用ＳＴＣ８９Ｃ５１６ＲＤ＋单片机和中文ＬＣＤ设计了简易数字芯片测试仪系统，能够实现对数字电子技术实验中经常使用的逻辑芯片的好坏判别和型号判别，价格便宜，又能实现中文界面的交互。　

关键词: ＳＴＣ单片机, 测试仪, 中文界面

Abstract: Ｉｎｄｉｇｉｔａｌｃｉｒｃｕｉｔｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔｓ，ｂａｓｉｃｓｅｒｉｅｓｏｆｄｉｇｉｔａｌｉｎｔｅｇｒａｔｅｄｃｉｒｃｕｉｔｓｃｈｉｐｓａｒｅｅｘｔｅｎｓｉｖｅｌｙｕｓｅｄ．Ｑｕａｌｉｔｙａｎｄｔｙｐｅｏｆｃｈｉｐｓｓｈｏｕｌｄｂｅｔｅｓｔｅｄｂｅｆｏｒｅｕｓｅ．Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇｓｐｅｃｉｆｉｃｔｅｓｔｅｒｓｉｎｔｈｅｍａｒｋｅｔａｒｅｅｘｐｅｎｓｉｖｅａｎｄｃａｎｔｔｅｓｔｍａｎｙｄｉｇｉｔａｌｃｈｉｐｓｉｎｌａｂｏｒａｔｏｒｙ．ＩｎｔｅｇｒａｔｉｎｇａｄｖａｎｔａｇｅｓａｎｄｄｉｓａｄｖａｎｔａｇｅｓｏｆｖａｒｉｏｕｓｅｘｉｓｔｉｎｇｔｙｐｅｓｏｆｔｅｓｔｅｒｓａｎｄａｄｏｐｔｉｎｇＳＴＣ８９Ｃ５１６ＲＤ＋ＳＣＭａｎｄＣｈｉｎｅｓｅＬＣＤｄｉｓｐｌａｙ，ｔｈｅａｕ ｔｈｏｒｓｄｅｓｉｇｎｅｄａｓｉｍｐｌｅｄｉｇｉｔａｌｔｅｓｔｅｒｓｙｓｔｅｍ，ｗｈｉｃｈｃｏｕｌｄｉｄｅｎｔｉｆｙｔｈｅｑｕａｌｉｔｙａｎｄｔｙｐｅｏｆｌｏｇｉｃｃｈｉｐｓｃｏｍ ｍｏｎｌｙｕｓｅｄｉｎｄｉｇｉｔａｌｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔｓ．Ｍｏｒｅｏｖｅｒ，ｉｔｉｓｃｈｅａｐａｎｄｃａｎａｃｈｉｅｖｅｔｈｅｉｎｔｅｒ ａｃｔｉｏｎｏｆＣｈｉｎｅｓｅｌａｎｇｕａｇｅｉｎｔｅｒｆａｃｅ．

Key words: ＳＴＣｍｉｃｒｏｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ, ｔｅｓｔｅｒ, Ｃｈｉｎｅｓｅｌａｎｇｕａｇｅｉｎｔｅｒｆａｃｅ

中图分类号:

TN431.2

金建辉, 何　春. 一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现[J]. 昆明冶金高等专科学校学报, 2010, 26(5): 52-56.

JIN Jian-Hui, HE 　Chun. ＤｅｓｉｇｎｏｆＡＳｉｍｐｌｅＣｈｉｐＴｅｓｔｅｒｗｉｔｈＣｈｉｎｅｓｅＩｎｔｅｒｆａｃ[J]. JOURNAL OF KUNMING METALLURGY COLLEGE, 2010, 26(5): 52-56.

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参考文献

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